全自動激光粒度儀是一種集光、機(jī)、電、計算機(jī)為一體的高科技產(chǎn)品，主要用于測量顆粒的粒徑分布。利用光散射原理來測量顆粒的粒徑分布。當(dāng)激光照射到顆粒上時，顆粒會產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象，不同粒徑的顆粒會產(chǎn)生不同的散射光分布。通過檢測和分析這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。

　　全自動激光粒度儀主要由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集，并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉(zhuǎn)換成電信號，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)對這些電信號進(jìn)行分析和處理，最終得到顆粒的粒徑分布信息。

　　全自動激光粒度儀的核心測量技術(shù)特點(diǎn)：

　　1、全量程米氏散射理論（Mie Scattering Theory）：

　　采用z精確的米氏散射理論進(jìn)行數(shù)據(jù)反演計算，而非近似的夫瑯禾費(fèi)（Fraunhofer）理論。

　　優(yōu)勢：能準(zhǔn)確測量從亞微米級（如0.02µm）到毫米級（如2000µm）的寬范圍顆粒，尤其對小顆粒（<1µm）和接近散射角度極限的顆粒測量精度更高，并可考慮顆粒的折射率和吸收率，結(jié)果更真實(shí)可靠。

　　2、先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計：

　　長焦距傅里葉光學(xué)變換系統(tǒng)：確保散射角與探測器位置的精確對應(yīng)關(guān)系，提高角度分辨率。

　　大角度散射光采集：配備多層、高密度的光電探測器陣列，能捕捉到從前向、側(cè)向到后向（高達(dá)140°以上）的散射光信號。

　　優(yōu)勢：有效提升對亞微米級超細(xì)顆粒的分辨能力和測量靈敏度，避免小顆粒信號被大顆粒信號掩蓋。

　　3、高動態(tài)范圍與高分辨率探測器：

　　采用高靈敏度、低噪聲的光電探測器（如雪崩光電二極管APD用于小角，硅光電二極管用于大角），確保微弱散射信號也能被精確捕捉。

　　探測器數(shù)量多（可達(dá)百個以上），分布合理，保證數(shù)據(jù)采集的完整性和分辨率。